數位全像顯微鏡

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

102117387

專利證號

I 486625

專利獲證名稱

數位全像顯微鏡

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2015/06/01

技術說明

數位全像顯微技術及干涉術目前已經被廣泛應用在生醫影像、微流道檢測、工程及化學上之檢測等，本技術致力於發展出微小化高性能之顯微鏡，以將高性能顯微鏡推廣至各種應用領域，故此發明極具實用性。此一微型化顯微鏡的特點之一為存在一雷射光由內向外射出裝置以照射待測物體，在裝置內此一向外射出之雷射光的光路上存在一個部分反射面或全像片，其可以產生參考光源，參考光源與待測物所反射之訊號光源之干涉條紋被影像感測器(如CMOS,CCD)紀錄後，藉由數位全像術計算出待測物體，此一微型化顯微鏡之特點二為藉由設定部分反射面之傾斜角度甚或直接以全像片取代部分反射面以縮小裝置體積。 This patent aims to develop a digital holographic microscope which is compact and small in size. This invitation can be applied to multi-field and is worthful. The first feature of this device is the light source-laser beam shooting out the device to illuminate the target. A partial reflector or hologram put between light source and target is used to produce reference beam. The interfering fringe of reference and signal is recorded by the image sensor. Then, the object can be calculated by digital holography. The second feature of the device is shrinking the device size by setting tilting angle of the partial reflector or using the hologram.

備註

本部(收文號1090071728)同意該校109年11月30日中大研產字第1091401301號函申請終止維護專利(中央)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

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