Ｘ射線造影之試驗假體

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

106135184

專利證號

I 670048

專利獲證名稱

Ｘ射線造影之試驗假體

專利所屬機關 (申請機關)

國立陽明大學

獲證日期

2019/09/01

技術說明

本研發成果屬於radiography的領域。本成果主要應用於X-ray影像偵檢器之影像品質評估，及X-ray光源之焦斑評估。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研究發展處

連絡電話

(02)2826-7398

網址