影像處理系統及其方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101113556

專利證號

I 461650

專利獲證名稱

影像處理系統及其方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2014/11/21

技術說明

電子斑點干涉術為全域式量測技術，此技術被廣泛應用於量測壓電片之次微米變形，但其量測結果容易因背景雜訊之影像而使影像品質降低。先前技術 透過 相減法或平均法濾除雜訊並提升影像品質，但相減法容易受到空氣擾動之影響，而平均法無法成功濾除背景雜訊。本技術透過影像處理搭配統計方法，有效 濾除因空氣擾動所產生之雜訊，同時濾除背景雜訊之干擾。 本發明透過計算各像素於不同影像序列下之標準差，同時濾除影響電子斑點干涉術之背景雜訊與空氣擾動，可同時提升影像品質與穩定度。本技術領域 具有 通常知識者常使用兩張影像相減，或是多張影像平均，但至今未見使用標準差方式提升影像與干涉條紋之品質。 An image processing system and a method thereof is disclosed, which for applying to an interference pattern. The interference pattern is generated by two of coherent light illuminated on an in-plane vibrating measured object. Alternatively, the interference pattern is generated by two of coherent light illuminated on an out-of plane as well as a reference plane, respectively. A CCD or the like records sequential images of the interference pattern at different exposure time, such that each pixel of the CCD may obtain light intensity of the interference pattern. Thereafter, a processor calculates a value of time-averaged light intensity of each pixel based on the exposure time and implements standard deviation algorithm based on the number of the image in the sequence, so as to remove noise from both the background and disturbance using the result of the standard deviation algorithm and improve the quality of the interference pattern.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址