可快速進行光電元件之可靠度分析的方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095117387

專利證號

I273251

專利獲證名稱

可快速進行光電元件之可靠度分析的方法

專利所屬機關 (申請機關)

南臺學校財團法人南臺科技大學

獲證日期

2007/02/11

技術說明

本發明係有關於一種可快速進行光電元件之可靠度分析的方法，主要利用頻譜分析儀檢測光電元件之低頻時的雜訊等效功率(NEP)和雜訊峰值(Peak)，再將光電元件施予適當之順向和逆向偏壓，使之產生正負電流的交互變動週期，並給予適當的循環週期次數、週期時間和工作週期，再藉由頻譜分析儀檢測經過電性週期測試之光電元件，其低頻時的雜訊等效功率(NEP)和雜訊峰值(Peak)是否比未經電性週期測試的值高，並將經過電性週期測試之光電元件在低頻時雜訊等效功率(NEP)和雜訊峰值(Peak)以統計的標準差方式找出良與不良的晶片，以達到快速且精準的可靠度分析。 The present invention relates to a method for analyzing the reliability of optoelectronic elements rapidly. In the present invention, the sampling optoelectronic elements are imposed with the appropriate forward bias and reverse bias to generate alternate variable cycles of positive currents and negative currents. Then, the optoelectronic elements are proceeded with appropriate iteration cycles, cycle time and duty cycles. Next, the spectrum analyzer tests and measures the optoelectronic elements which have been proceeded with the electrical cycle test to determine whether the NEP and peak of noise power spectrum of the optoelectronic elements at the low frequency are increased. The NEP and peak of noise power spectrum of the optoelectronic elements at the low frequency after the electrical cycle test are compared with the statistic standard deviation to find out the optoelectronic elements that have reliability problems, and to achieve rapid analysis of the reliability.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研究發展暨產學合作處

連絡電話

06-2531841

網址