探針PROBE

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

099126001

專利證號

I 410635

專利獲證名稱

探針PROBE

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2013/10/01

技術說明

原子力顯微術（或稱掃瞄探針顯微術）為奈米科技以及生物醫學研究上的重要儀器。而掃瞄探針技術更是其技術核心。許多原子力顯微術功能上的突破均仰賴新穎探針的設計與製作，也因此，探針的製作技術僅掌握在少數國際大廠手中。 我國已有自行開發原子力顯微鏡機台設備的能力，但是目前仍未建立探針相關技術，導至於儀器使用上，需長期向國外廠商購置探針（經常性耗材），所費不貲。 本技術即為原子力顯微探針的設計與製造技術，目的為掌握奈米分析技術的核心元件，培植自主開發新穎探針的能力。同時，本技術在製程開發上已臻成熟，可經由技術轉移，以協助國內相關產業發展。 This technology focuses on the design and fabrication of probe tips for atomic force microscopy and scanning probe microscopy. Our goal is to establish the core technology for nanoscale material analysis, and to enable the development of novel nanoprobes. Based on the various applications of SPM technology, we use finite element analysis and process simulation methods to help design the optimal probe dimension and shape. The fabrication processes are carried out based on simulation results to make probes with designed properties and consistent quality. This technology is in a matured development stage. Therefore, it is ready for technology transfer to the SPM industry in Taiwan.

備註

本部(收文號1050039975)同意該校105年6月7日成大研總字第1054500403號函申請終止維護專利55件(成功)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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連絡電話

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