不可見光之發光元件其輸出光束之檢測裝置

專利類型

新型

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098206489

專利證號

M 366672

專利獲證名稱

不可見光之發光元件其輸出光束之檢測裝置

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2009/10/11

技術說明

本創作係揭露一種不可見光之發光元件其輸出光束之檢測裝置，其包含一密閉殼體、一攝像器及一處理系統。密閉殼體內部係具有一反射層，反射層為一螢光材質。攝像器係連接密閉殼體一端，攝像器具有一鏡頭及一光感測元件。處理系統係連接攝像器。當不可見光之發光元件置於密閉殼體之一端時，藉由不可見光之發光元件其輸出之光束至反射層，使反射層將不可見光轉換為可見光，可見光再經由鏡頭聚焦至光感測元件，使光學之可見光轉換為數位訊號以輸入於處理系統中加以處理，以檢測不可見光之發光元件，其輸出光束外型之良窳。 The creation of a system to expose the invisible light-emitting element of the output beam of detection device, comprising a closed housing, a camera device and a processing system. Department hermetically sealed housing having a reflecting layer, a reflective layer is fluorescent material. Imager system connecting the closed end of the housing, the camera has a lens and a light-sensing element. Department processing system connected imager. When the invisible light emitting element disposed at one end of the closed housing, with the output beam of the light emitting element is not visible to the reflective layer, the reflective layer invisible light into visible light. The visible light was detected by visible camerca to determine the quality of infra led by the algorithm.

備註

本部(收文號1050070266)同意該院105年8月23日國研業字第1050102309號函申請終止維護專利

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