光學量測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

111128336

專利證號

I 804401

專利獲證名稱

光學量測系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2023/06/01

技術說明

提出一新穎的光學量測方法，透過簡易的光路架構，搭配歪斜光線追蹤法追跡光束，不僅能同時量測多層透明材料的折射率與厚度，也能量測不平行層的傾斜角度，改善現有技術的不足，結合自動對焦系統，還能提升對焦成效，拓展應用領域，例如生物檢測、醫療工程、玻璃行業、薄膜製程、半導體行業等。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址