低同調干涉光學成像裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

102137599

專利證號

I 494540

專利獲證名稱

低同調干涉光學成像裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2015/08/01

技術說明

光學同調斷層掃描為一種不具侵入性的光學顯影技術，已廣泛應用於諸多生醫應用領域中，主要可根據縱向掃描方式分成時域光學同調斷層掃描與頻域光學同調斷層掃描兩類。本發明是有關於一種光學影像產生裝置及其方法，特別是指一種低同調光學斷層影像產生方法及其裝置。在時域斷層掃描系統的基礎架構下，於參考端安插使用一光束位移元件造成參考光束橫向位移，並於偵測端使用一光束偏折元件將樣本端與參考端之反射光束疊合，再藉由使用一電荷耦合元件解析出待測物之縱深資訊，而不需要施行縱向光程調變，以實現高速、高穩定性之低同調斷層影像系統。 The invention is relative to a device and a method of optical imaging, especially to a device and a method of optical coherence tomography .Based on the Michelson interferometer, a beam shifting unit, for reflecting and shifting the reference light away from the original light path, and a beam bending unit, for bending the reflected and shifted reference light, are utilized. The information light and reference light are directed to a photo detector, wherein the reference light and the information light are superposed to form interference patterns on the photo detector.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址