體積全像材料儲存容量之量測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098138523

專利證號

I 424293

專利獲證名稱

體積全像材料儲存容量之量測方法

專利所屬機關 (申請機關)

中原大學

獲證日期

2014/01/21

技術說明

本發明係關於一種體積全像材料（包括光折變材質及感光高分子）儲存容量之量測方法，特別係關於一種可精確的量測體積全像材料之飽合相位透射光柵振幅及光柵記錄時間常數，由此二常數可精確計算出該材料的動力範圍，高動力範圍代表高儲存容量。藉由此一技術可以判定光折變材質及感光高分子或其它全像儲存材質之儲存容量。當上述材質成為商業貨品時必須運用此一專利技術始可判定其價值。 本發明之一目的係提供一種藉由使用量測光折變晶體或感光高分子之繞射效率圖形數據的方法來測量光柵記錄時間常數的方法。本發明之一另一目的係提供一種使用該光柵記錄時間常數的量測及與該方法相關之所有需要的計算來測量該光折變晶體的飽合相位透射光柵振幅或是飽合光致折射率增量。 The only technique allows a precise determination of the storage capacity for photorefractive material, photopolymer or other holographic material. This technique involves measuring the diffraction efficiency as a function of time for both phase matching and phase mismatching to determine the saturated photorefractive index and the recording time constant of the material. These two quantities allow a precise determination of dynamic range of the material. A higher dynamic range implies a higher the storage capacity. Once photorefractive material, photopolymer or other holographic storage material become commercial commodities, this technique allows a precise determination of its value. a to correct the precision includes

備註

本部(收文號1050095060)同意該校105年12月13日原產字第1050004075號函申請終止維護專利

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