三維紅外線光譜量測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

097128095

專利證號

I 387744

專利獲證名稱

三維紅外線光譜量測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2013/03/01

技術說明

本發明係提供有關一種針對高分子薄膜以試片旋轉(rotation)或傾斜(tilt)方式搭配偏光鏡(polarizer)即可迅速獲得該薄膜之三維紅外光譜圖。薄膜製備方法包含機械拉伸、電場極化和退火熱處理，並藉由自製的三維紅外光譜儀進行薄膜量測，如此，可獲得高分子薄膜之三維紅外光譜圖，以了解高分子材料各分子偶極於機械拉伸、電場極化和退火熱處理前後在空間之運動或排列情形，並進而對其材料基本結構做深入之探討與判斷。 In this invention, the three dimensional infrared can be measured easily by rotating or tilting polymer films under the FTIR instrument equipped with polarizer. Samples were prepared by drawing, electric field poling, and thermal annealing. A noval skill called three dimensional infrared measuring technology was developed. Dipoles distribution and arrangement in the space can be calculated after three dimensional infrared spectra obtained.

備註

本部(收文號1050001826)同意該校105年1月6日虎科大智財字第10534000010號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

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