即時同步產生干涉影像之方法及其裝置與解析相位之方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

11/949,202

專利證號

US 7,760,363 B2

專利獲證名稱

即時同步產生干涉影像之方法及其裝置與解析相位之方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2010/07/20

技術說明

本發明提供一種即時同步產生干涉影像之方法，利用該方 法，本發明更提供一種即時同步產生干涉影像之裝置，利 用組合不同之光學元件實現前述之方法。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址