奈米探針結構及其應用

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

103139625

專利證號

I 531797

專利獲證名稱

奈米探針結構及其應用

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2016/05/01

技術說明

一種奈米探針結構，包含:一第一探針，具有一針尖頂端;以及一第二探針，具有一平坦頂端，其中該針尖頂端鍍上組金屬層，且該第一探針圍繞該針尖頂端鍍上一絕綠層; 以及該平坦頂端鍍上鉛金屬層，且該第二探針圍繞該平坦頂端鍍上一絕緣層。本發明奈米探針結構可應用於原子力顯微鏡以量測細胞膜內外的電生理訊號，其能將量測的範圍縮小在一特定的小面積內，有效地減低其他區域的雜訊干擾。原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy，AFM 是一種奈米 級高分辨的掃描探針顯微鏡，其利用懸臂上尖細探針的表面偵測並收集訊號，主要係用於精確量測材料表面形貌，量測結果的正確性與探針尖的幾何形貌以及與尺寸有密不可分的關係。 A nanoscale probe structure comprising: a first probe having a tip top end and a se∞ probe having a planar top end，wherein a metallic layer coats the on the tip top end，a insulating layer coats around the tip top end of the first probe; and a metallic layer coats on the planar top end, a insulating layer coats around the planar top end of the second probe. The structure of present invention can be applied in atomic force microscopy to detect the electricity physiology signal inside and outside the cell membrane which can limit the measure region to specific little area for the measure of electricity physiology signal and effectively decrease the miscellaneous noise disturbance from other region.

備註

本部(收文號1100002967)同意該院110年1月12日清智財字第1109000186號函申請終止維護專利(國立清華大學)

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