封裝體表面翹曲值之快速檢測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

094143091

專利證號

I263801

專利獲證名稱

封裝體表面翹曲值之快速檢測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立屏東科技大學

獲證日期

2006/10/11

技術說明

一種封裝體表面翹曲之快速檢測方法，其包含步驟將依參考光柵設置於封裝體上方，利用一光 線通過參考光柵，以便再帶冊封體表面形成一陰影光柵，再用影像擷取模組結兩者共同形成陰 影疊紋，將該參考光柵移動特定像位後，再用相同方法擷取另外至少二陰影疊紋，計算該數各 陰影疊紋，獲得相位影像並對該相位影像進行影像楚哩，已獲得待測封裝體表面翹曲度。

備註

本部(發文號1110000392)同意貴校110年8月10日屏科大建字第1101300262號函申請終止維護專利。(屏科大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研究發展處

連絡電話

08-7703202轉6281

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