表面電漿共振量測裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

099114235

專利證號

I 426260

專利獲證名稱

表面電漿共振量測裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2014/02/11

技術說明

本發明係一種結合波長調制旋光外差光源、相位差動式的表面電漿共振偵測技術之量測裝置。本發明包括ㄧ波長調制光源模組、相位差動式的表面電漿共振偵測技術。首先由一波長受調制的光束，經過分光裝置後產生兩道具有光程差的光線，這兩道光線結合後再通過一波片後，即形成一旋光外差光源。該光源經表面電漿共振感測器反射後，反射光將帶有表面電漿共振反應後的相位變化訊號。當待測物的物理參數(如折射率)變化時，該變化資訊將載在反射光訊號的相位中。藉由本案所提出的相位差動偵測技術，即可取出訊號光的相位變化，進而計算得到待測物物理量的變化。

備註

本部(收文號1060048584)同意該校106年7月13日中大研字第1061430172號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

連絡電話

03-4227151轉27076

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