垂直度與平行度檢測系統及其檢測方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

101146152

專利證號

I 472712

專利獲證名稱

垂直度與平行度檢測系統及其檢測方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2015/02/11

技術說明

一種垂直度與平行度檢測系統及其檢測方法，該系統包含一光源單元、至少一垂直反射菱鏡裝置、一位置感測器、，其中位置感測器可分別架設於一第一移動軸之第一移動件、一第二移動軸與第三台動軸之移動件上，藉此，可透過將一位置感測器架設於第一移動軸上，進行第一移動軸檢測，然後利用光路設計使垂直反射菱鏡裝置打出一道垂直第一移動軸之光路，再將一位置感測器架設於第二移動軸上，並檢測、計算第一移動軸與第二移動軸之角度誤差，而可獲得垂直度，且當另一垂直反射菱鏡裝置上射出另一道平行前述第二移動軸之光路，並將一位置感測器設在該第三移動軸，檢測該兩待測軸間的角度誤差可獲得平行度。 In recent years, with the technology process of machining process and the higher demanding of accuracy for multi-axis processing machine and measuring machine, the error analysis and the calibration methods for the machine assembly are also more considerable. At present, the calibration and testing for machine assembly is still made by the straightedge and laser interferometer. But for the assembly of large-sized machine tools, they are confined by the length of the conventional straightedge and their low precision. Consequently, it usually causes the ringing cost of gauges and calibration difficulties for assembly. Therefore, this study develops of an optical calibration system of high-precision. The calibration system includes a laser source and position sensing detectors.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933

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