檢測奈米孔道和奈米粒子界面電位之方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

107109101

專利證號

I 650546

專利獲證名稱

檢測奈米孔道和奈米粒子界面電位之方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立雲林科技大學

獲證日期

2019/02/11

技術說明

本發明提供一種檢測奈米孔道和奈米粒子界面電位之方法，主要運用奈米孔道內粒子受力的電動力學機制，搭配電流感測技術，正確地測得奈米孔道界面電位，再透過所測得的孔道界面電位，以進一步量測通過孔道的帶電奈米粒子界面電位，並且由於本發明人所提供之方法不需分析電流阻抗訊號的詳細圖譜，也不需要購置昂貴的標準品粒子，因此較過去方法精準許多且沒有限制，並具有大幅簡化量測過程及大幅降低量測成本之功效。此外，於針對軟性奈米粒子而言還能夠較為準確地感測出粒子的界面電位，進而提升本發明所提供之方法的價值。

備註

本部(發文號1100065531)同意貴校110年10月28日雲科大研字第1100502425號函申請讓與專利。(雲科大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財管理組

連絡電話

(05)5342601轉2521

網址