用於輕元素薄膜的三維影像重建方法及系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

111113461

專利證號

I 783896

專利獲證名稱

用於輕元素薄膜的三維影像重建方法及系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立清華大學

獲證日期

2022/11/11

技術說明

獲得輕元素電子顯微鏡樣品三維結構之最高解析度 Obtain the highest resolution of the three-dimensional structure of light-element electron microscope samples

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

03-5715131-62219

網址