Device comprising physical properties controlled by microstructure and method of manufacturing the same

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

16/718,684

專利證號

US 11,358,868 B2

專利獲證名稱

Device comprising physical properties controlled by microstructure and method of manufacturing the same

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2022/06/14

技術說明

利用微影技術使凡德瓦材料產生結構形變而導致的能帶工程技術

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址