超微細球狀探針加工機

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098105041

專利證號

I 353903

專利獲證名稱

超微細球狀探針加工機

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2011/12/11

技術說明

　本發明之[微型3次元量測機用之超微細玻璃球狀探針成型技術]係利用段差式雙卷線系統於一微細放電(micro EDM)加工機台上快速成型各種不同形式之微細電極工具後、再藉由本發明之特殊夾治具及微細放電加工機台定位及位置控制特性，將直徑約0.07mm(或更小)之微細玻璃球沾黏貼於微細電極工具前端形成一微細球狀探針(micro spherical styli tip)。故複合段差式雙卷線系統之設計，僅需單道加工程序便可快速成形微細工具，沾黏方式亦於同一micro EDM機台完成，可保持微細玻璃球狀探針之真球度與微細工具軸(Stem)之同心度，使該微細玻璃球狀探針適合於微型3次元量測機用之微細感測頭(micro probing head)。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址