光學元件應力像差計算系統及其方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

102146673

專利證號

I 491863

專利獲證名稱

光學元件應力像差計算系統及其方法

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2015/07/11

技術說明

本發明係ㄧ種計算光學元件應力像差方法。其特徵在於利用應力分析及光線追跡，使光學元件內之應力分佈，映射到光線進入光學元件之路徑中，可以得到光線路徑上之應力分佈，進一步地，計算該視角不同入射光線經過之應力分佈，可以得到該視角之應力像差。 光學元件受應力造成之光程差，相關理論已發展成熟多年。但是結合應力分析及應力光程差計算之方法，在上世紀90年代已經有部分應用。 本案將光線追跡所得到射入及射出光學元件之路徑，應用量測或計算得到之應力分析結果。將該視角所有入射光線之光程差Zernike方程式或格點方式擬合後結果，可輸入光學軟體計算其影響。 The mechanical and thermal stress on lens will cause the glass refractive index different, the refractive index of light parallel and light perpendicular to the direction of stress. The refraction index changes will introduce Optical Path Difference (OPD).

備註

本部(收文號1100044510)同意該院110年7月15日國研授儀服院字第1100901175號函申請終止維護專利(國家實驗研究院)

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