發明
中華民國
094143692
I 271507
子彈加工痕跡機電整合比對方法
國立虎尾科技大學
2007/01/21
本發明係為一種子彈加工痕跡機電整合比對方法,其包括一.準備步驟、二.量測步驟、三.轉換分析步驟,以及四.判斷步驟。本發明係設計機電介面軟體,將表面量測單元量測參考試件與待分析試件所得之高低電壓訊號,轉成實際表面形貌訊號,再傳至電腦,利用撰寫軟體配合統計觀念與表面組成特徵,計算出不同之參考數値,即可判斷出參考試件與待分析試件為同/不同人與同/不同製造裝置所製成,如此具備比對過程相當簡易、設備相當簡單,以及小體積試件即可進行比對等優點。
本部(收文號1040050424)同意該校104年7月14日虎科大智財字第10434061520號函申請終止維護專利(虎尾)
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