經修飾金屬奈米粒子、其製造方法以及檢測錳離子濃度的方法Modified metal nanoparticles, manufacturing method thereof and method for detecting manganese ion concentration

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

109141156

專利證號

I 767419

專利獲證名稱

經修飾金屬奈米粒子、其製造方法以及檢測錳離子濃度的方法Modified metal nanoparticles, manufacturing method thereof and method for detecting manganese ion concentration

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2022/06/11

技術說明

本專利係以通過金奈米顆粒的合成與表面修飾技術，結合肉眼判別濃度含量之比色表與電化學檢測，實現肉眼判別錳離子水溶液中濃度含量與結合電化學分析技術，進一步達到微量檢測與高檢測靈敏性之雙重目標。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址