一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

097110741

專利證號

I 326630

專利獲證名稱

一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2010/07/01

技術說明

一種檢測多軸加工機誤差之系統與方法，係由雷射光源與光電感測器所組成之簡易架構，為將雷射光源固定於旋轉軸上、光電感測器固定於線性軸上，以光學非接觸檢測模式以檢測多軸加工機之線性軸(X、Y與Z軸)與旋轉軸(A、B與C軸)運動時所產生之誤差，以達高精度之要求；據此，藉由上述利用具有高解析度之光學式儀器所架構形成，不會受到磁場的干擾造成量測的誤差，且亦可利用於各種工作場合上，並具有低成本、高精確度、體積小、攜帶方便、架設簡易及檢測迅速等實質效益。

備註

本部(收文號1060025200)同意該校106年4月14日虎科大智財字第10634000590號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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連絡電話

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