晶片表面檢測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

110126841

專利證號

I 794899

專利獲證名稱

晶片表面檢測系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立高雄大學

獲證日期

2023/03/01

技術說明

一種晶片表面檢測系統，用以解決習知物體表面缺陷系統整體執行效率不佳的問題。係包含：一資料庫模組，用以儲存數個第一影像、數個第二影像及數個第三影像，以作為一訓練樣本資料；一模型建構模組，用以對YOLOv5模型進行改良，以建立一測試模型；及一人工智慧平台，將訓練完畢的測試模型載入使用，並透過一拍攝模組朝一檢測機台上的數個晶片槽拍攝，以產生一待檢測影像，該人工智慧平台將該待檢測影像輸入至該測試模型中，以產生數個預測結果，該人工智慧平台根據該數個預測結果生成一晶片檢測報告，並將該晶片檢測報告用以顯示於一顯示器上。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

研究發展處

連絡電話

07-5919100

網址