發明
中華民國
092119496
230457
使用動態門檻電壓字元線電晶體之記憶體單元
國立中山大學
2005/04/01
本發明係關於一使用動態門檻電壓字元線電晶體之記憶單元,其中利用更改基底電壓來達成 動態門檻電壓效果,以擷取高與低門檻電壓的優點,來達成加速記憶體操作和降低待機功率 消耗。
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