非接觸式物體輪廓量測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

108110331

專利證號

I 693374

專利獲證名稱

非接觸式物體輪廓量測系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立高雄科技大學

獲證日期

2020/05/11

技術說明

本發明提供一種非接觸式物體輪廓量測系統，包含一基座、一光學測微計、一旋轉機構、一電腦及一待測件，光學測微計安裝於基座的一支架，光學測微計包含一發光器、一接收器及一控制器，接收器接收發光器發射的一帶狀平行光柵，旋轉機構安裝於基座的一基板，旋轉機構的一馬達將輸出通過一減速機傳遞至一置放座旋轉。將一待測件置於置放座由置放座驅動旋轉，待測件的輪廓依序通過帶狀平行光柵，控制器將待測件的輪廓資料傳輸一電腦，使用電腦中的資料蒐集程式將輪廓資料進行存取，將其誤差數據以圖表方式顯示並計算待測件的內外輪廓等數據。

備註

本會(收文號1120027525)同意該校112年5月10日高科大產字第1122800171號函申請終止維護專利(國立高雄科技大學)

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