薄膜承載片及薄膜性質量測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

096132069

專利證號

I 354785

專利獲證名稱

薄膜承載片及薄膜性質量測系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立中興大學

獲證日期

2011/12/21

技術說明

一種薄膜承載片，包含一框架，及一感測件。該框架包括一環繞一第一軸線之內周面。該感測件包括一懸臂段，及一被 驅動段，該懸臂段是由該內周面沿一與該第一軸線相交之第二軸線的方向延伸，並具有二分別位於該第二軸線兩側之側 緣，該等側緣之延長線是相交於該第一軸線。 該被驅動段是由該懸臂段沿該第二軸線方向延伸，並具有沿該第一 軸線相背設置之一驅動面及一基準面，且該被驅動面之形心是位於該第一軸線上。如此，當一通過該形心之作用力作用 於該被驅動段而使該懸臂段彎曲時，該懸臂段所受之應力為均勻分佈。

備註

本部(收文號1060063873)同意該校106年8月10日興產字1064300420號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術授權中心

連絡電話

04-22851811

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