高熵合金及其於探針之應用High-entropy alloy and probe application thereof

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

110105121

專利證號

I 760107

專利獲證名稱

高熵合金及其於探針之應用High-entropy alloy and probe application thereof

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2022/04/01

技術說明

提供一種高熵合金於探針之應用及其元素組合之挑選方法，其係利用焓限篩選固溶相之高熵合金。上述之高熵合金係至少由四種元素組成。因高熵合金具有低電阻、高韌性與高硬度特性，得以克服測試探針在測試過程中因磨損、沾黏、鍍層剝落造成的壽命降低及電接觸變差的問題；也能降低原子力顯微鏡用探針以及其他檢測用探針（如四點探針等）在掃描過程中的磨耗問題。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

企業關係與技轉中心

連絡電話

06-2360524

網址