結合影像量測儀的雷射位移量測裝置及方法 | 專利查詢

結合影像量測儀的雷射位移量測裝置及方法


專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100114219

專利證號

I 451064

專利獲證名稱

結合影像量測儀的雷射位移量測裝置及方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2014/09/01

技術說明

本計劃的目的在建立三角量測的研發能量,除了獨創出追蹤鎖定檢測位置的斜向三 角量測方法外,還能獨立成為高價位的產品,從而解決了斜向光點位置變動的致命問題 外,並將此一結果應用於源台公司的” C N C非接觸影像測量儀” 之中,預期將取得 5000: 1的動態範圍,可解決該產品快速對焦與定位的問題。 根據該機之性能及國內外之相關技術,本文基於下列理由採用解決問題: (1).三角測量頭是高價位之光電產品,依精度及規格每台售價從 2 萬~30 萬不等,可獨立發展成為一個商品(工商業潛力) (2).不同的對焦範圍有不同的規格,為了配合未來的發展,應掌握不同的三角測距的設計與製造能力。 (3).該技術易與影像設備結合,因此本計劃的目標在完成一台①低價位②高精度之三角量測設備,測量範圍與精度的比值至少 5000(100mm 工作位置,測量範圍 10mm 時精度可達 2 μ m以上),而測量速度為每秒2.5KSPS以上,而生產成本低於二萬元以下。 技術評估: ①國際領先的技術指標為10000:1(範圍:解析度),但無滿足本計畫之規格 ②國內的技術約為1000:1,但無此一產品 ③本計劃的技術目標為5000:1 本計劃可建立先進的三角量測的研發能量並轉換成商品。

備註

本部(收文號1060043183)同意該校106年6月28日虎科大智財字第10634001120號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933


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