二維材料薄膜檢測方法及二維材料薄膜檢測系統「２次元材料薄膜検出方法および２次元材料薄膜検出システム」

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

日本

專利申請案號

特願 2021-003315

專利證號

特許 7157480

專利獲證名稱

二維材料薄膜檢測方法及二維材料薄膜檢測系統「２次元材料薄膜検出方法および２次元材料薄膜検出システム」

專利所屬機關 (申請機關)

國立中正大學

獲證日期

2022/10/12

技術說明

本發明係關於一種2D材料檢測方法，其包含將來自雲端資料庫中的合適OM影像以可見光超頻譜影像技術轉換成空間頻譜資訊以及樣品在透過拉曼(Raman)量測所成長的層數和位置作為數據集的標籤作為包含3D-CNN的模型之輸入。 A method for detecting a two-dimensional material is provided. In the method, a suitable OM image from a cloud database is converted into a space spectral data by a hyper spectral imaging technology of visible light and a Raman data of a grown layer number and a grown position of a sample are used as a label of data set, and the space spectral data and the label are used as an input of a model with 3D-CNN.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

技術移轉授權中心

連絡電話

05-2720411轉16001

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