邊緣鑑定方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

110127987

專利證號

I 792461

專利獲證名稱

邊緣鑑定方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2023/02/11

技術說明

此發明為具有微米級解析度的公分級樣本的免樣品處理、快速、千兆像素之非線性光學多色成像，輔以實時 GPU 加速的多鄰近圖拼接/鑲嵌。 Post-processing-free Sub-Minute Multicolor Giga-Pixel Nonlinear Optical Imaging of a Centimeter-scale sample with a Submicron Digital Resolution, assisted by Real-time GPU-accelerated Brute-force-enabled Multi-adjacent-tile Stitching/Mosaicking.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址