Image-Based Refractive Index Measuring System

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

13/836,991

專利證號

US 9,103,778 B2

專利獲證名稱

Image-Based Refractive Index Measuring System

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2015/08/11

技術說明

一種影像式折光度度量系統，其包含光學裝置及電子裝置。光學裝置係匯集通過待測物之外部光源；電子裝置包含影像擷取模組、影像分析模組及顯示模組。影像擷取模組擷取外部光源以產生第一影像；影像分析模組連接於影像擷取模組以接收第一影像，並分析第一影像以產生包含待測物之折光度之分析結果；顯示模組連接於影像分析模組以接收並顯示分析結果。

備註

本會(收文號1110048321)同意該院111年7月27日國研授儀服院字第1110901227號申請終止維護專利(財團法人國家實驗研究院)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址