高頻特性量測校正基板及使用其之向量網路分析儀校正程序

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098118857

專利證號

I 392878

專利獲證名稱

高頻特性量測校正基板及使用其之向量網路分析儀校正程序

專利所屬機關 (申請機關)

國立中山大學

獲證日期

2013/04/11

技術說明

分散式電路(distributed circuit)觀念即為當電子電路操作頻率所對應之波長與元件尺寸或整體電路尺寸相近或不可忽略時，傳遞訊號於系統中受到電磁波動變化影響，電路以及材料特性隨操作頻率增加而產生所謂寄生效應；用以驗證射頻微波等高頻線路特性及線路頻域特性分析上常用之儀器設備為網路分析儀(Network Analyzer)。網路分析基礎工作原理是以電磁波能量傳輸觀點，依據不同量測頻段或輸出功率需求，利用訊號能量反射與穿透大小比例，測量待測物(Device Under Test, DUT)輸出埠與輸入埠之功率穿透係數(Transmitted Coefficient)及反射係數(Reflected Coefficient)之響應，藉以分析待測電路特性。在實際量測環境中，網路分析儀常搭配其他儀器設備、接線與接頭形成一完整之量測系統。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學營運及推廣教育處

連絡電話

(07)525-2000#2651

網址