用以量測一電路之複數電性參數的量測裝置及其量測方法MEASURING APPARATUS FOR MEASURING A PLURALITY OF ELECTRICAL PARAMETERS OF A CIRCUIT AND MEASURING METHOD THEREOF

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

100109224

專利證號

I 484713

專利獲證名稱

用以量測一電路之複數電性參數的量測裝置及其量測方法MEASURING APPARATUS FOR MEASURING A PLURALITY OF ELECTRICAL PARAMETERS OF A CIRCUIT AND MEASURING METHOD THEREOF

專利所屬機關 (申請機關)

國立成功大學

獲證日期

2015/05/11

技術說明

本案提出一種量測方法，用以量測一電路之複數電性參數的量測裝置，其包含複數量測單元、複數接點群組、以及複數陣列式切換電路。使用可程式通道切換量測方法，該複數量測單元用以量測該複數電性參數。該複數陣列式切換電路分別電連接於該複數量測單元及該複數接點群組，用以分別可選擇地導通該複數陣列式切換電路至少其中之一及至少，透過複數陣列式切換電路的方式，可在被量測物及量測元件之間建立量測之關聯，再依據實際使用狀況及量測方法，來決定要切換而連接的通道，如此，可讓待測物與量測元件間不再是一對一的連接方式，而是類矩陣式的對應方法，任一個量測元件都可以隨意指定到任一個待測物上。可以使用極少量的量測元件，量測較多的待測物品的係數。 A measuring apparatus for measuring a plurality of electrical parameters of a circuit is provided. The measuring apparatus comprises a plurality of measuring units, a plurality of groups which of each has connection points, and a plurality of array switching circuits. The plurality of measuring units are used for measuring the plurality of electrical parameters. The plurality of array switching circuits electrically connect the plurality of measuring units and the plurality of groups for selectively conducting at least one of the plurality of array switching circuits and at least one connection points corresponding to the plurality of groups.

備註

本部(收文號1080069828)同意該校108年10月22日成大技轉字第1085600263號函所報終止維護專利。

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