射頻散射參數量測校正方法Calibration Method for Radio Frequency Scattering Parameter Measurements

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

13/015,326

專利證號

US 8,552,742 B2

專利獲證名稱

射頻散射參數量測校正方法Calibration Method for Radio Frequency Scattering Parameter Measurements

專利所屬機關 (申請機關)

元智大學

獲證日期

2013/10/08

技術說明

一種只使用兩個校正器之一階段式射頻散射參數量測技術，而該校正方法係使用了一傳輸線段校正器、一抵補並聯元件校正器及一待測物量測器，其中該傳輸線段校正器以及抵補並聯元件校正器之傳輸線與該待測物量測器之傳輸線長度相同，以使該傳輸線段校正器以及抵補並聯元件校正器與該待測物量測器有相同的誤差盒，並經由校正方法求出誤差盒的散射參數矩陣後，可在該待測物量測器上連接待測電子元件，並將其未經校正的量測數據進行運算，以求出待測物之射頻散射參數。 An one-tier RF scattering parameter measurement technique using only two calibrators is proposed. A transmission line and an offset-shunt component are designed as the calibrators with the device-under-test (DUT), where the transmission line lengths of DUT are the same as the transmission line lengths of the transmission line calibrator and the offset-shunt component calibrator. Through the calibration procedures, the scattering parameters of the error boxes are acquired, and thereby the actual scattering parameter of DUT is calculated accordingly.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作組

連絡電話

(03)4638800#2286

網址