結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統

專利類型

新型

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

104113747

專利證號

I 560468

專利獲證名稱

結構照明平行接收之螢光超光譜顯微系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立中央大學

獲證日期

2016/12/01

技術說明

近年來超光譜顯微技術蓬勃發展，已不只應用於發展最初的地球科學觀測地質，在生物、材料、物理、醫學等領域都已廣泛使用。 超光譜顯微技術運用於生物醫學的領域中，可取得組織內分子組成的空間資訊，若要在活體或未切片組織內，取得三維的空間資訊及光譜資訊，則需結合光學切片技術及超光譜技術。其中結構照明螢光顯微術具有：可在廣域照明下取得光學切片能力、非侵入性等優點，相當適用於活體內組織及厚組織動態資訊的觀察。 本發明以DLP產生線型結構激發光並投影在樣本上，訊號光經物鏡收集後，由光譜系統在光譜維度展開，並以二維光偵測器接收，得到一維空間及一維光譜資訊的二維影像。為利用結構照明來提升縱向解析度，必須以DLP快速切換三種不同相位的線型結構激發光，依序取得三個不同相位的影像，經由結構照明重建後可提升縱向解析度。再以電動移動平台(Stage)改變水平掃描位置及掃描深度，可取得另二維空間的資訊，以組成具三維空間及一維光譜資訊之四維超光譜影像。 相較於以往的的技術，本發明可得到較高的光譜解析度，並可在厚樣本中取得很好的縱向解析度，因DLP改變條紋的速度快，可大幅將低取樣所需之時間。 Our invention uses a DLP to project a linear structured emission light onto the sample, and after gathering the signals with an objective lens, a grating is used to unfold the spectrum of the signals, therefore the image taken by the CCD would be formed by an axis of spatial information along with an axis of spectrum. To increase its resolution, a sequenced linear structured emission light of 3 different phases would be projected, and by collecting its images accordingly, a sectioned image can be reconstructed. And by shifting its horizontal position and depth, its two other spatial information can be acquired, therefore, a four dimension hyperspectral image, consisting 3D spatial information and a single dimension of its spectrum, can be obtained.

備註

本部(收文號1090071728)同意該校109年11月30日中大研產字第1091401301號函申請終止維護專利(中央)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智權技轉組

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