具有鈍化層的紫外光檢測器

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

099141424

專利證號

I 422052

專利獲證名稱

具有鈍化層的紫外光檢測器

專利所屬機關 (申請機關)

正修學校財團法人正修科技大學

獲證日期

2014/01/01

技術說明

本創作係使用特定材料來做為一種具有鈍化層的紫外光檢測器，包含一基板、一設置於該基板上的光電轉換層、二彼此相間隔地設置於該光電轉換層上的電極，以及一設置於該光電轉換層與所述電極上的鈍化層。該鈍化層是以能使該紫外光線穿透於該光電轉換層與所述電極上。在不照射紫外光時，能藉由該鈍化層降低環境干擾所產生的雜訊。而在照射紫外光時，則能藉由該鈍化層的高紫外光穿透率，使較多的紫外光到達該光電轉換層並產生電訊號。因此，導入該鈍化層不只能有效地增加光暗電流比值與改善光檢測器之拒斥比(Rejection ratio)，甚至可以改善光檢測器之感測靈敏度 In this study, we used the specific material as the passivation layers of ultra-violet (UV) photodetectors, which include a substrate, an optoelectronic transfer layer, two inter-digitated contact electrodes, and a passivation layer. The enhanced photo-to-dark current contrast ratio and improved rejection ratio of UV photodetectors are achieved by introducing this specific material as the passivation layer.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

新創及技轉中心

連絡電話

(07)7358800#1197

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