一種利用紅外線快速加熱之原理製作動態潤濕行為測試裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

090120985

專利證號

I 187263

專利獲證名稱

一種利用紅外線快速加熱之原理製作動態潤濕行為測試裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2003/09/21

技術說明

　 紅外線加熱是以石英燈管內之鎢電熱絲所產生的紅外線為熱源，用來快速加熱工件的一種方式。因為紅外線可以穿透爐體中的石英保護管，並被聚焦於所欲加熱之試片上，因此在接合過程中僅有試片區生熱，爐體其他部位受熱較少，使得紅外線加熱法兼具有快速昇溫（能源效率高）及快速冷卻（散熱快）之特性，是一種極具發展潛力的製程。本專利是利用紅外線快速加熱之原理製作動態潤溼行為測試裝置，將可以廣泛的應用於各種溫度下，液相液滴與平坦固體表面相互接觸間之潤溼行為（包含動態潤濕角及展開面積）。對於精密量測液相液滴早期之潤濕行為，將具有革命性的突破。 　 　 Infrared heating is a process of fast heatingworkpieces by infrared generated from the heated Wfilament in the quartz lamp. Since the infraredcan transmit quartz tube and be focused on thespecimen, the specimen is locally heated byinfrared. The rest part of furnace is much lessheated by infrared. Therefore, infrared heatingis a highly potential process with thecharacteristics of both rapid heating (high-energyefficiency) and rapid cooling (quick heatdissipation). This patent introduces a wettingbehavior test facility made by theory of rapidinfrared heating. It can be used to accuratelymeasure the wetting behavior(including dynamicwetting angle and spreading area) of the contactbetween liquid phase droplet and flat solidsurface. It is a revolutionary breakthrough,especially in accurately measuring the early stagewetting behavior of the liquid phase droplet.

備註

本部(收文號1070034975)同意該校107年5月28日校研發字第1070041311號函申請申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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