面外位移特徵鑑別方法及使用該方法之共振頻率鑑別方法與裝置

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

095146516

專利證號

I 311639

專利獲證名稱

面外位移特徵鑑別方法及使用該方法之共振頻率鑑別方法與裝置

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2009/07/01

技術說明

本發明提供一種面外位移特徵鑑別方法，其係可評估由一振 動樣品根據不同頻率所產生之干涉影像之一空間頻域資訊以 得到之干涉條紋密度指標資訊(fringe density index)，以 藉由該干涉條紋密度指標資訊判斷該振動樣品於空間中之面 外位移特徵。此外，本發明更提供一種共振頻率鑑別方法以 及其裝置，其係利用同步控制架構進行掃頻以擷取振動樣品 之干涉影像，並利用演算法進行影像解析尋找出干涉影像之 干涉條紋密度指標資訊以進行共振頻率鑑別之程序，進而建 立該振動樣品於各個共振模態下之全域表面輪廓。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

專利技轉組

連絡電話

02-87720360

網址