迴路測試架構及方法

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

099106508

專利證號

I 410051

專利獲證名稱

迴路測試架構及方法

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2013/09/21

技術說明

一種迴路測試架構，包含：電壓調整器、數位類比及類比數位轉換器。電壓調整器包括：包括電壓放大及電壓縮小電路之增益控制模組及位移控制模組。於數位類比測試模式，數位類比轉換器依序產生第一類比測試訊號，由增益控制模組放大電壓準位後，由類比數位轉換器依序轉換得到測量電壓值。於類比數位測試模式，數位類比轉換器產生類比測試訊號群組，由增益控制模組縮小電壓準位及位移控制模組位移電壓準位後，由類比數位轉換器依序轉換得到字碼對應。類比測試訊號群組分別對應類比數位轉換器之一刻度範圍。一種迴路測試方法亦在此被揭露。 A loopback test architecture and method are provided. The loopback test architecture includes a voltage adjuster, a DAC and an ADC. The voltage adjuster includes gain control module including a voltage scale-up circuit and a voltage scale-down circuit and an offset control module. During a DAC test mode, the DAC generates a series of first analog test signals to be scaled up by the voltage scale-up circuit. The ADC further converts the first analog test signals to obtain a plurality of voltage values. During an ADC test mode, the DAC generates a series of analog test signal groups to be scaled down and offseted by the voltage scale-up circuit and the offset control module. The ADC further converts the analog test signal group to obtain a plurality of code hits, wherein each analog test signal group corresponds to a scale-range of the ADC.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址