樣品特性的量測方法METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF SAMPLE

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

14/097,246

專利證號

US 9,949,410 B2

專利獲證名稱

樣品特性的量測方法METHOD FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF SAMPLE

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺灣大學

獲證日期

2016/11/15

技術說明

光學同調斷層掃描(Optical Coherence Tomography, OCT)技術普遍被用做生物樣本或元件的結構量測，市面上已有許多產品。本發明所需之系統架構基本與傳統頻域OCT無異，關鍵技術為一穩定之寬頻光源，系統可分析之頻寬以及所能量測的最小膜層厚度皆由該光源頻寬決定。現今市面上的OCT系統使用的光源，頻寬多在數十奈米等級，對應之縱向解析度在10微米左右，對於本發明之實施仍略嫌缺乏與橢偏儀之競爭力。但由於提升縱向解析能力為OCT發展的大方向之一，學術界亦有團隊實現過頻寬超過100奈米、縱向解析度達1微米左右之OCT系統（例如使用本實驗室的晶體光纖光源），故可預見不遠將來此技術將可被實際應用。 The present invention is related to a double cladding crystal fiber, particularly to a double cladding crystal fiber structure applicable to high power fiber laser, high power fiber broadband light source or high power fiber amplifier.

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

產學合作總中心

連絡電話

33669945

網址