光學式機台校正檢測裝置Optical Calibration and Testing Device for Machine Tools

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

13/075,249

專利證號

US 8,542,358 B2

專利獲證名稱

光學式機台校正檢測裝置Optical Calibration and Testing Device for Machine Tools

專利所屬機關 (申請機關)

國立虎尾科技大學

獲證日期

2013/09/24

技術說明

一種光學式機台校正檢測裝置，主要是由一光源單元、一分光元件、至少一光電感測器與一直度與角度量測單元所構成；該光源的雷射光入射分光元件後會分成二光束，一光束垂直於固定體、另一光束平行於固定體，使之可用於直度檢測、角度檢測、垂直度檢測、立柱傾角檢測、立柱平行度檢測及橫梁傾角檢測等誤差檢測；若檢測後無誤差產生，則檢測光點位置與起始光點位置相同；反之，若檢測後有誤差產生，則檢測光點位置會隨著誤差的變化而改變。

備註

本部(收文號1060000110)同意該校105年12月30日虎科大智財字第10534002490號函申請終止維護專利

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

智財技轉組

連絡電話

(05)6315933

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