相位資訊擷取方法及其三維形貌量測系統

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

中華民國

專利申請案號

098102814

專利證號

I 409502

專利獲證名稱

相位資訊擷取方法及其三維形貌量測系統

專利所屬機關 (申請機關)

國立臺北科技大學

獲證日期

2013/09/21

技術說明

本發明對於頻譜影像中擷取關於相位資訊的過程中，提出一種利用可貼近於頻譜影像中的有效信號頻譜區域外形之中通濾波器以取得對應該相位資訊之頻譜資訊。隨著科技的日新月異和工業生產的發展，對表面輪廓、幾何尺寸、粗糙度、自由曲面之測量越來越重要，精度之要求也越來越高，但是目前重要之線上量測問題，易受環境擾動的影響而產生量測誤差。所以具有三維形貌量測及即時量測能力之技術日趨重要。在一實施例中，利用該方法，可以將該中通濾波器之頻譜範圍進行最佳化，使得還原之表面形貌更精確。此外，利用該方法，本發明更提供一三維形貌量測系統，其係可擷取關於一物體之條紋影像，並且利用前述之相位資訊擷取方法對該條紋影像取得相位資訊，進而還原該物體表面之形貌。 The present invention provides a band-pass filter, being capable of fitting a frequency spectrum area having a phase information in a frequency spectrum image, to obtain a spectrum information corresponding to the phase information during the process of obtaining the phase information from the frequency spectrum image with respect to an object’s surface. In another embodiment, the present invention further provides a method to optimize the spectrum range of the band-pass filter so as to enhance measuring accuracy and efficiency while restoring the surface of the object’s surface. In addition, by utilizing the foregoing method, the present invention further provides a system for measuring three-dimensional surface shapes in which a deformed fringe pattern with respect to the measured object’s surface is acquired and the phase information is obtained from the fringe pattern according to the foregoing method so as to restore the surface shape of the measured object.

備註

本部(收文號1090026809)同意該校109年5月8日北科大產學字第1097900107號函申請終止維護專利(北科大)

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

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