REFLECTIVE CONDENSING INTERFEROMETER

專利類型

發明

專利國別 (專利申請國家)

美國

專利申請案號

16/920,287

專利證號

US 11,473,895 B2

專利獲證名稱

REFLECTIVE CONDENSING INTERFEROMETER

專利所屬機關 (申請機關)

財團法人國家實驗研究院

獲證日期

2022/10/18

技術說明

本發明提出一種用於聚焦於預設焦點的反射式聚光干涉儀。該反射式聚光干涉儀包含：光源、凹面鏡組、凸面鏡、分光元件、以及反射元件。光源係用於基於中心軸線平行地發射光線，且該中心軸線通過預設焦點。凹面鏡組具有至少一第一凹面部分及至少一第二凹面部分相對地位於該中心軸線的兩側，且朝向該中心軸線及該預設焦點的一面凹入。凸面鏡於中心軸線上設置於凹面鏡組與預設焦點之間，且背向預設焦點凸出。分光元件與中心軸線垂直交叉地設置於凸面鏡與預設焦點之間。反射元件係設置於分光元件與凸面鏡之間。

備註

連絡單位 (專責單位/部門名稱)

國研院技術移轉中心

連絡電話

02-66300686

網址