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專利類型 專利國別
(專利申請國家)
專利申請案號 專利證號 專利獲證名稱 專利所屬機關
(申請機關)
獲證日期
發明 中華民國 093123146 235903 機器人教導方法及系統 國立虎尾科技大學 2005/07/11
發明 中華民國 093118998 I 235534 波長可調之光纖迴路雷射模組及其雷射共振腔裝置 國立交通大學 2005/07/01
發明 日本 特願 2002-130111 特許 3693627 無鉛銲錫 國立成功大學 2005/07/01
發明 中華民國 093111309 I235299 提供具容錯能力之應用程式叢集服務的方法 國立成功大學 2005/07/01
發明 中華民國 093109331 I235237 生物感測器、其感測元件之製法、及包括其之量測系統 國立雲林科技大學 2005/07/01
發明 中華民國 090127259 I235342 呈現3D虛擬實境之地理資訊系統GIS 逢甲大學 2005/07/01
發明 中華民國 092112663 I 235236 離子感測電路 中原大學 2005/07/01
發明 中華民國 093116743 I 235233 微型主軸迴轉精度量測裝置 國立虎尾科技大學 2005/07/01
發明 中華民國 093111846 I 235248 具有自我修復能力之光纖布拉格光柵感測系統 國立交通大學 2005/07/01
發明 中華民國 092132361 I 235618 一種超薄型平面喇叭之結構及其最佳化設計方法 國立交通大學 2005/07/01
發明 中華民國 092107450 I 235228 一種用光學尺量測技術結合原子力探針在二維平面量測的裝置 國立虎尾科技大學 2005/07/01
發明 中華民國 093138092 I 235041 三度空間人體掃描資料的自動化特徵點辨識方法 國立清華大學 2005/07/01
發明 美國 09/989,427 US6,912,301B1 具個別調適功能之數位弱視影像輔助系統 國立臺灣大學 2005/06/28
發明 中華民國 093104877 I234935 高解析度磁感測編碼器之編碼方法 南臺學校財團法人南臺科技大學 2005/06/21
發明 美國 10/665,191 US 6,909,998 B2 In-situ monitoring method and system for mold deformation in nanoimprintIn-situ monitoring method and system for mold deformation in nanoimprint 國立清華大學 2005/06/21


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