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專利類型 專利國別
(專利申請國家) 		專利申請案號 專利證號 專利獲證名稱 專利所屬機關
(申請機關) 		獲證日期
發明 美國 16/360,788 US 10,983,478 B2 透明基板瑕疵複數光場繞射模型及其檢測方法 Complex Defect Diffraction Model and Method for Defect Inspection of Transparent Substrate 國立臺灣師範大學 2021/04/20
發明 美國 16/516,464 US 10,982,238 B2 ESCHERICHIA COLI TRANSGENIC STRAIN FOR PRODUCING ITACONATE AND USES THEREOF 國立清華大學 2021/04/20
發明 美國 16/686,604 US 10,985,070 B2 Method for Forming Nano Sensing Chip by Selective Deposition of Sensing Materials Through Device-Localized Joule Heating and Nano Sensing Chip Thereof 國立交通大學 2021/04/20
發明 南韓 10-2020-0011403 10-2242416 PROCESS FOR MAKING INTERCONNECT OF GROUP III-V SEMICONDUCTOR DEVICE, AND GROUP III-V SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING INTERCONNECT MADE THEREBY 國立交通大學 2021/04/14
發明 美國 15/590,706 US 10,976,152 B2 透明基板之瑕疵檢測方法與裝置 METHOD FOR DEFECT INSPECTION OF TRANSPARENT SUBSTRATE BY INTEGRATING INTERFERENCE AND WAVEFRONT RECORDING TO RECONSTRUCT DEFECT COMPLEX IMAGES INFORMATION 國立臺灣師範大學 2021/04/13
發明 美國 16/202,061 US 10,978,269 B2 Sample chip for electron microscope and its related application 國立成功大學 2021/04/13
發明 美國 16/531,607 US 10,975,105 COMPOSITION FOR SUBSTRATE SURFACE MODIFICATION AND METHOD USING THE SAME 國立中央大學 2021/04/13
發明 美國 16/691,560 US 10,976,577 Sensing substrate, manufacturing method thereof, and sensor 國立中央大學 2021/04/13
發明 美國 16/234,535 US 10,975,456 B2 熱電合金及其製作方法與熱電合金複合物/THERMOELECTRIC ALLOY, METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND THERMOELECTRIC ALLOY COMPOSITE 國立中山大學 2021/04/13
發明 美國 16/360,346 US 10,978,902 B2 WIRELESS CHARGING DEVICE 國立交通大學 2021/04/13
發明 美國 16/699,127 US 10,977,545 B2 Radio Frequency Screw Antenna and Radio Frequency Screw Tag 國立彰化師範大學 2021/04/13
發明 中華民國 108125676 I 724467 機台老化診斷方法 國立中興大學 2021/04/11
發明 中華民國 108144970 I 724680 聲波致動液滴裝置及利用聲波致動液滴進行化學分析之方法 國立清華大學 2021/04/11
發明 中華民國 109114080 I 724880 高承重起身輔助坐墊 遠東科技大學 2021/04/11
發明 中華民國 109121410 I 724931 氮轉移試劑及其製法與應用 國立成功大學 2021/04/11


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