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專利類型 專利國別
(專利申請國家)
專利申請案號 專利證號 專利獲證名稱 專利所屬機關
(申請機關)
獲證日期
發明 中華民國 100119997 I 413336 雙向換流裝置及其直流供電系統 國立中正大學 2013/10/21
發明 中華民國 100115296 I 412873 投影裝置 國立彰化師範大學 2013/10/21
發明 中華民國 098110073 I 413005 行動載具之強健型動態派翠遞迴式模糊類神經網路軌跡追蹤控制系統 元智大學 2013/10/21
發明 中華民國 099101331 I 412636 氧化鋅奈米柱薄膜及其製備方法 國立中正大學 2013/10/21
發明 中華民國 098105161 I 412594 用來鑑別具有轉譯層級自我切割活性之多核苷酸的方法與系統 中原大學 2013/10/21
發明 中華民國 101137522 I 413032 透鏡成像教具 國立彰化師範大學 2013/10/21
發明 中華民國 098133815 I 412940 擴散光學斷層掃描之影像重建方法、裝置及電腦程式產品 國立交通大學 2013/10/21
發明 中華民國 097129253 I 413061 驅動電路及具有該驅動電路之畫素電路 國立成功大學 2013/10/21
發明 中華民國 098119119 I 412627 鈦酸氫鈉之製備方法 國立中興大學 2013/10/21
發明 中華民國 096120495 I 412595 蔗糖之同質異構形構製備方法 國立中央大學 2013/10/21
發明 中華民國 099128545 I 412551 具有光子晶體結構之高分子膜之製造方法 國立成功大學 2013/10/21
發明 中華民國 098137453 I 412891 光固化式微奈米圖案之接觸轉印方法METHOD FOR PHOTO-CURING CONTACT PRINTING MICRO/NANO PATTERNS 國立成功大學 2013/10/21
發明 中華民國 099104269 I 413446 一種多色發光二極體照明系統 國立臺灣大學 2013/10/21
發明 中華民國 098131704 I 412733 足壓量測裝置及其量測方法 國立臺北科技大學 2013/10/21
發明 中華民國 099144496 I 412725 距離量測與定位方法The method of distance measurement and localization 國立臺灣師範大學 2013/10/21


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